涂層測厚儀的選型及影響因素

        涂層測厚儀的選擇及其影響因素
??用戶可根據(jù)測量需要選擇不同的測厚儀。磁性測厚儀和渦流測厚儀的厚度一般為0-5毫米。此類儀器分為探頭與主機(jī)一體，探頭與主機(jī)分離，前者操作方便，后者適用于測量非平面形狀。較厚的致密材料應(yīng)采用超聲波測厚儀測量，測得的厚度可達(dá)0.7-250mm。電解測厚儀適用于測量極細(xì)線上電鍍金、銀等金屬的厚度。
??兩用型
??該儀器德國生產(chǎn)，結(jié)合了磁性測厚儀和渦流測厚儀的功能。它可用于測量黑色金屬和有色金屬基材上的涂層厚度。如：
??銅、鉻、鋅等電鍍層的厚度或鋼上的油漆、油漆、搪瓷等鍍層厚度。
??鋁和鎂材料上陽極氧化膜的厚度。
??銅、鋁、鎂、鋅等有色金屬材料的涂層厚度。
??鋁、銅、金等箔條、紙、塑料薄膜的厚度。
??各種鋼材和有色金屬材料的熱噴涂層厚度。
??該儀器符合GB/T4956和GB/T4957標(biāo)準(zhǔn)，可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
??儀器特點(diǎn)
??它采用雙功能內(nèi)置探頭，自動(dòng)識別鐵基或非鐵基材料，并選擇相應(yīng)的測量方法進(jìn)行準(zhǔn)確測量。
??符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的雙顯示結(jié)構(gòu)可以在任何測量位置讀取測量數(shù)據(jù)。
??采用手機(jī)菜單式的功能選擇方式，操作非常簡單。
??可以設(shè)置上下限值。當(dāng)測量結(jié)果超過或滿足上下限值時(shí)，儀器會(huì)發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍的燈光。
??穩(wěn)定性*，通常無需校準(zhǔn)即可長期使用。
??技術(shù)規(guī)格
??范圍：0～2000μm，
??電源：兩節(jié)AA電池
??標(biāo)準(zhǔn)配置
??常規(guī)型
??對材料進(jìn)行表面保護(hù)和裝飾，如涂層、電鍍、覆層、層壓、化學(xué)生成膜等而形成的覆蓋層，在相關(guān)和國際標(biāo)準(zhǔn)中稱為涂層。
??涂層測厚已成為加工業(yè)和表面工程質(zhì)量檢驗(yàn)的重要組成部分，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)良質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的一種手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品及涉外項(xiàng)目對涂層厚度有明確要求。
??涂層厚度的測量方法主要有：楔切法、光切法、電解法、厚差法測量法、稱重法、X射線熒光法、β射線背散射法、電容法、磁測量法和渦流測量法等。這些方法中的前五種是破壞性檢測。測量方法繁瑣、速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
?? X射線和β射線法是非接觸、無損測量，但設(shè)備復(fù)雜、價(jià)格昂貴，測量范圍小。由于存在放射源，用戶必須遵守輻射防護(hù)規(guī)定。 X射線法可以測量極薄的鍍層、雙層鍍層和合金鍍層。 β射線法適用于原子序數(shù)大于3的涂層和基材的測量。電容法僅用于測量細(xì)導(dǎo)體絕緣涂層的厚度。
??隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用磁法和渦流法的測厚儀向小型化、智能化、多功能化、高精度化、實(shí)用化邁進(jìn)了一步。測量分辨率達(dá)到0.1微米，精度可達(dá)1%，大大提高。它具有適用范圍廣、量程廣、操作方便、價(jià)格低廉等特點(diǎn)，是工業(yè)和科研中廣泛使用的測厚儀器。
??非破壞性方法既不損傷涂層也不損傷基體，檢測速度快，可以經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行大量檢測工作。
??影響因素
??a母材的磁性
??磁法測厚受母材磁性變化的影響（實(shí)際應(yīng)用中低碳鋼的磁性變化可以認(rèn)為是輕微的），為避免熱處理和冷加工等因素的影響，儀器應(yīng)使用與試件母材性質(zhì)相同的標(biāo)準(zhǔn)板進(jìn)行校準(zhǔn)；也可通過待涂試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
?? b金屬電性能
??母材的電導(dǎo)率對測量有影響，母材的電導(dǎo)率與其材料成分和熱處理方法有關(guān)。用與試件母材性質(zhì)相同的標(biāo)準(zhǔn)板校準(zhǔn)儀器。
?? c母材厚度
??每個(gè)儀器都有一個(gè)臨界厚度的母材。大于此厚度，測量不受母材厚度的影響。該儀器的臨界厚度值如表1所示。
?? d邊緣效應(yīng)
??該儀器對試樣表面形狀的突然變化很敏感。因此，在試件的邊緣或內(nèi)角附近進(jìn)行測量是不可靠的。
??電子曲率
??試樣的曲率對測量有影響。這種效果總是隨著曲率半徑的減小而顯著增加。因此，彎曲試樣表面的測量是不可靠的。
?? f 試件變形
??探頭會(huì)使軟包試件變形，因此可以在這些試件上測量可靠的數(shù)據(jù)。
?? g表面粗糙粗糙度
??母材和覆蓋層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增加，影響增加。粗糙的表面會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)誤差和偶然誤差。在每次測量中，應(yīng)增加不同位置的測量次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果母材粗糙，則必須在未鍍膜的母材試片上取幾個(gè)粗糙度相近的位置來校準(zhǔn)儀器的零點(diǎn)；或使用不腐蝕母材的溶液溶解并去除覆蓋層，然后校準(zhǔn)儀器。零點(diǎn)。
?? g磁場
??周圍各種電氣設(shè)備產(chǎn)生的強(qiáng)磁場會(huì)嚴(yán)重干擾磁法測厚。
?? h粘性物質(zhì)
??本儀器對阻礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的物質(zhì)敏感。因此，必須清除附著的物質(zhì)，以確保儀器的探頭與試件表面直接接觸。
?? i 探頭壓力
??探頭施加在試件上的壓力會(huì)影響測量讀數(shù)。因此，請保持壓力恒定。
?? j探頭的方向
??探頭的位置對測量有影響。在測量過程中，探頭應(yīng)保持垂直于樣品表面。
??須遵守的規(guī)定
??a金屬特性
??對于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)板母材的磁性和表面粗糙度應(yīng)與試件的母材相似。
??對于渦流法，標(biāo)準(zhǔn)片母材的電性能應(yīng)與試件母材的電性能相似。
?? b母材厚度
??檢查母材厚度是否超過臨界厚度。如果不是，請使用 3.3 中的方法之一進(jìn)行校準(zhǔn)。
??邊緣效果
??不應(yīng)在試樣的突然變化處測量，如邊緣、孔洞和內(nèi)角。
?? d曲率
??不應(yīng)在試樣的曲面上測量。
?? e讀數(shù)次數(shù)
??通常，儀器的每個(gè)讀數(shù)并不*相同，因此每個(gè)測量區(qū)域必須取多個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異也需要在任何給定區(qū)域進(jìn)行多次測量，尤其是當(dāng)表面粗糙時(shí)。
?? f表面清潔度
??測量前，去除表面附著的任何物質(zhì)，如灰塵、油脂和腐蝕產(chǎn)物，但不要去除任何覆蓋材料